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新闻资讯

  • 为什么CaF₂在半导体制造的量测与检测环节中不可或缺

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    在半导体制造的量测与检测环节,光波长每缩短一步,对材料的考验就严苛一分。当工作波长进入 193nm 深紫外波段,绝大多数常规光学玻璃已经无法胜任,氟化钙(CaF₂)单晶成为这一波段少数可靠的选择。近期,我们面向半导体量测设备领域,重点供应德国 HELLMA 品牌的 C...

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  • 匀胶的“可重复”从哪里来:转速、加速度与配方的工程意义

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    涂一层光刻胶,看起来是最简单的工序之一:滴胶、旋转、烘干。但同一瓶胶、同一台设备、同一个操作者,做出的膜厚仍可能有几个百分点的差异,而这几个百分点足以影响曝光窗口与刻蚀结果。匀胶机的价值,很大程度上体现在把这些变量固定下来的能力上。 在常见的旋涂模...

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  • 洁净室手套不只是防护用品:颗粒、析出与静电如何影响良率

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    在洁净室的耗材清单里,手套大概是最不起眼的一项。它单价低、消耗快、采购流程简单,很多企业把它归到“后勤物资”而不是“工艺相关物料”。但在半导体、制药与精密装配场景中,手套是与产品接触时间最长的物品之一,它的颗粒释放、化学析出与静电特性,都会在数据上留...

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  • 气泡为什么需要被“看见”:在线气泡检测的原理与选型

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    在流体工艺中,气泡是个两面性的存在:管路里残留的空气会让泵空转、让流量计量失真;而工艺过程中产生的细微气泡,又可能是正常现象。能否把两者区分开,取决于检测手段的分辨能力与判定逻辑。 光学式检测利用气泡与液体折射率差异引起的光强变化,结构简单、响应快...

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  • 高浓度样品为什么不必再稀释:短光程比色皿的方法学价值

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    在紫外可见光谱分析中,稀释是最常见也最容易被忽略的操作。样品颜色深、浓度高,吸光度超出量程,操作者顺手稀释十倍再测——看上去流程完整,实际上把误差引进了结果。短光程比色皿提供的,是另一种思路:不改样品,改光程。 按朗伯—比尔定律,吸光度等于摩尔吸光系...

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  • 透射光检测中的 XY 台怎么选:行程、通光孔与重复性的权衡

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    在透射式光学检测设备里,XY 位移台既是运动部件,也是光路的一部分——样品要架在它的通光孔上,光从下方穿过、相机在上方成像。这个双重身份,让它的选型比普通定位平台多出几条约束。 通光孔决定了可检测样品的尺寸范围,但开孔越大,台体刚性越难维持,负载能力也...

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  • 从卤素到 LED:显微与目检照明的迁移要点

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    照明是显微观察与外观检查中最容易被忽略的变量。同一件样品,在不同光源下可能呈现不同的颜色与对比度;同一个缺陷,在不同亮度下可能被判为合格或不良。随着卤素冷光源逐步被 LED 取代,迁移过程中的一些细节值得提前想清楚。 卤素灯是连续光谱光源,显色性较好,...

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  • 气密性检测:集成电路可靠性管控中的隐形关卡——TRADINCO Traqc-600 泄漏检测仪应用介绍

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    在集成电路行业,人们谈论可靠性时,想到的往往是电学测试、老化筛选、失效分析实验室。但有一类隐患不在电信号里,而在气体分子里:封装壳体的微漏、测试气路的渗漏、密封接头的缓慢失效——它们不会立刻让产品判 fail,却会在数月后的客户现场变成批量的可靠性事故。...

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